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Physique/cristallographie et diffraction / Claude Esnouf

Public ISBD Titre : Physique/cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique : cours et exercices corrigés Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude Esnouf, Auteur Editeur : Paris : Ellipses Année de publication : 2018 Importance : 220 p. Présentation : couv. ill.,ill. Format : 26 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-340-02338-3 Langues : Français (fre) Index. décimale : 05-06 Optique Résumé : Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Écoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles. L'ouvrage comporte cinq chapitres : Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction.Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique.Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5).Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage. Note de contenu : TABLE des MATIERES CHAPITRE I : CRISTALLOGRAPHIE 1-L’ÉTAT CRISTALLIN 2- INDEXATION et REPRESENTATION des PLANS RÉTICULAIRES CHAPITRE II : DIFFRACTION par les CRISTAUX 1- PHÉNOMÈNE de DIFFUSION 1-1 L’onde électronique 1-2 Diffusion électronique 2- PHÉNOMÈNE de DIFFRACTION 2-1 Intensité diffractée 3- DIFFUSION INÉLASTIQUE - LIGNES DE KIKUCHI 3-1 Lignes de KIKUCHI en transmission 3-2 Lignes de KIKUCHI en réflexion CHAPITRE III : ASPECTS INSTRUMENTAUX 1- MICROSCOPES ELECTRONIQUES 1-1 Architecture des microscopes 1-2 Source d’électrons 1-3 Résolution spatiale en mode focalisé 1-4 Porte-objets des microscopes 1-5 Acquisition des clichés 1-6 Correcteurs d’aberrations 2- PRÉPARATION des ÉCHANTILLONS 2-1 Préparation pour la MEB 2-2 Préparation pour la MET CHAPITRE IV : METHODES de DIFFRACTION au MET 1- METHODE SAED 1-1 Relation de dépouillement 1-2 Aspect du cliché de diffraction 1-3 Zones de LAUE 1-4 Pratique du dépouillement d’un cliché de monocristal 1-5 Méthode concurrente : Imagerie de haute résolution 1-6 Déterminations permises par la méthode SAED 2- METHODE du FAISCEAU CONVERGENT 2-1 Que contiennent les disques de diffraction ? 2-2 Approfondissements :Déterminations permises par les méthodes à faisceau convergent 3- METHODE de DIFFRACTION en PRÉCESSION 3-1 Caractéristiques de la méthode PED CHAPITRE V : METHODES de DIFFRACTION au MEB 1- METHODE EBSD 1-1 Émission rétrodiffusée – Compléments 1-2 Dispositifs d’acquisition et de traitement 2- METHODE TKD/t-EBSD/t-EFSD 2-1 Montage expérimental 2-2 Résolution spatiale 2-3 Acquisition et traitement 2-4 Une variante, le TKD ‘on-axis’ 3- COMPARAISON des METHODES PED, EBSD, TKD 3-1 Au plan pratique 3-2 Au plan de la résolution 3-3 Au plan de la qualité des clichés 3-4 Au plan de la sensibilité à l’orientation cristalline 3-5 Au plan de la discrimination des phases 3-6 Au plan de la distribution des grains ANNEXES E1 Symétries 2D E2 Compacité et sites dans les structures simples E3 Groupe d’espace de l’hexagonal compact E4 Construction de l’espace réciproque E5 Indexations par changement de réseau E6 Règle d’extinction des cristaux R E7 Macle Σ dans une structure cfc E8 Facteur de structure et réseaux de BRAVAIS E9 Facteur de structure dans l’hexagonal compact E10 Cliché de type DEBYE-SHERRER E11 Dépouillement d’un cliché de diffraction par un monocristal de zircone E12 Diffraction à l’interface d’un cristal R et d’un cristal F E13 Cristal Al3 BC - Extinction d’ondes E14 Approfondissement : Indexation cohérente entre plusieurs clichés d’un même cristal (utilisation d’un porte-objet ‘tilt-rotation’) E15 Approfondissement : Indexation cohérente entre plusieurs clichés d’un même cristal (utilisation d’un porte objet‘double tilt’) E16 Anamorphisme des clichés EBSD E17 Dépouillement d’un cliché EBSD E18 Dépouillement d’un cliché EBSD -Index Physique/cristallographie et diffraction : application à la diffraction électronique : cours et exercices corrigés [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Paris : Ellipses, 2018 . - 220 p. : couv. ill.,ill. ; 26 cm. ISBN : 978-2-340-02338-3 Langues : Français (fre) Index. décimale : 05-06 Optique Résumé : Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Écoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles. L'ouvrage comporte cinq chapitres : Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction.Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique.Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique.Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5).Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage. Note de contenu : TABLE des MATIERES CHAPITRE I : CRISTALLOGRAPHIE 1-L’ÉTAT CRISTALLIN 2- INDEXATION et REPRESENTATION des PLANS RÉTICULAIRES CHAPITRE II : DIFFRACTION par les CRISTAUX 1- PHÉNOMÈNE de DIFFUSION 1-1 L’onde électronique 1-2 Diffusion électronique 2- PHÉNOMÈNE de DIFFRACTION 2-1 Intensité diffractée 3- DIFFUSION INÉLASTIQUE - LIGNES DE KIKUCHI 3-1 Lignes de KIKUCHI en transmission 3-2 Lignes de KIKUCHI en réflexion CHAPITRE III : ASPECTS INSTRUMENTAUX 1- MICROSCOPES ELECTRONIQUES 1-1 Architecture des microscopes 1-2 Source d’électrons 1-3 Résolution spatiale en mode focalisé 1-4 Porte-objets des microscopes 1-5 Acquisition des clichés 1-6 Correcteurs d’aberrations 2- PRÉPARATION des ÉCHANTILLONS 2-1 Préparation pour la MEB 2-2 Préparation pour la MET CHAPITRE IV : METHODES de DIFFRACTION au MET 1- METHODE SAED 1-1 Relation de dépouillement 1-2 Aspect du cliché de diffraction 1-3 Zones de LAUE 1-4 Pratique du dépouillement d’un cliché de monocristal 1-5 Méthode concurrente : Imagerie de haute résolution 1-6 Déterminations permises par la méthode SAED 2- METHODE du FAISCEAU CONVERGENT 2-1 Que contiennent les disques de diffraction ? 2-2 Approfondissements :Déterminations permises par les méthodes à faisceau convergent 3- METHODE de DIFFRACTION en PRÉCESSION 3-1 Caractéristiques de la méthode PED CHAPITRE V : METHODES de DIFFRACTION au MEB 1- METHODE EBSD 1-1 Émission rétrodiffusée – Compléments 1-2 Dispositifs d’acquisition et de traitement 2- METHODE TKD/t-EBSD/t-EFSD 2-1 Montage expérimental 2-2 Résolution spatiale 2-3 Acquisition et traitement 2-4 Une variante, le TKD ‘on-axis’ 3- COMPARAISON des METHODES PED, EBSD, TKD 3-1 Au plan pratique 3-2 Au plan de la résolution 3-3 Au plan de la qualité des clichés 3-4 Au plan de la sensibilité à l’orientation cristalline 3-5 Au plan de la discrimination des phases 3-6 Au plan de la distribution des grains ANNEXES E1 Symétries 2D E2 Compacité et sites dans les structures simples E3 Groupe d’espace de l’hexagonal compact E4 Construction de l’espace réciproque E5 Indexations par changement de réseau E6 Règle d’extinction des cristaux R E7 Macle Σ dans une structure cfc E8 Facteur de structure et réseaux de BRAVAIS E9 Facteur de structure dans l’hexagonal compact E10 Cliché de type DEBYE-SHERRER E11 Dépouillement d’un cliché de diffraction par un monocristal de zircone E12 Diffraction à l’interface d’un cristal R et d’un cristal F E13 Cristal Al3 BC - Extinction d’ondes E14 Approfondissement : Indexation cohérente entre plusieurs clichés d’un même cristal (utilisation d’un porte-objet ‘tilt-rotation’) E15 Approfondissement : Indexation cohérente entre plusieurs clichés d’un même cristal (utilisation d’un porte objet‘double tilt’) E16 Anamorphisme des clichés EBSD E17 Dépouillement d’un cliché EBSD E18 Dépouillement d’un cliché EBSD -Index

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	N.Inventaire
4085	05-06-18	Livre	Bibliothèque de Génie Electrique- USTO	Documentaires	Exclu du prêt	4085