Titre :	Optronique Optoélectronique Appliquée : mesures instruments modèles
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Yannick Deshayes, Auteur
Editeur :	Paris : Ellipses
Année de publication :	2014
Collection :	Technosup
Importance :	277 p.
Présentation :	couv. ill. en coul., ill.
Format :	26 cm.
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-340-00127-5
Langues :	Français (fre)
Index. décimale :	09-07 Physique des dispositifs éléctroniques
Résumé :	L’ouvrage développe la mise en oeuvre des mesures des caractéristiques électriques et optiques des composants optoélectroniques, depuis la réalisation des appareils de mesure jusqu’à l’obtention des résultats. Le coeur du livre est le chapitre 4 qui détaille les différentes mesures et analyse les résultats. Il précise également les démarches nécessaires pour vérifier le bienfondé des mesures ainsi que les limites des modèles pour une approche numérique. Préalablement, le chapitre 1 développe les différentes technologie des diodes électroluminescentes et les procédés de fabrications. Les chapitres 2 et 3 présentent les différents modèles de base, électriques puis optiques. On décrit également les différents appareils nécessaires à la mesure et à l’établissement d’une caractéristique courant-tension, puissance optique-courant et spectre optique. Enfin, le chapitre 5 revient sur la physique du solide pour en extraire les modèles présentées dans les chapitres précédents. Ce chapitre, plus théorique, présente des difficultés élevées pour les non initiés à la mécanique quantique. Les différents modèles sont présentés de manière pédagogique suivant une difficulté croissante et certains résultats portent sur les nouvelles technologies type GaN.
Note de contenu :	Table des matières Chapitre 1 - Les dispositifs optoélectroniques à DELs 1. Les technologies optoélectroniques 2. Les structures à semiconducteurs 3. Les applications 4. Conclusion Chapitre 2 - Caractéristiques électriques des structures élémentaires 1. Instrumentation et mesures électroniques 2. Caractéristique d’une homojonction 3. Caractéristique d’une double hétérostructure 4. Conclusion Chapitre 3 - Caractéristiques optiques des structures élémentaires 1. Instrumentation et mesures optiques 2. Propriétés optiques des semiconducteurs 3. Caractéristiques optiques d’une structure élémentaire 4. Conclusion Chapitre 4 - Mesures électro-optiques et analyses de DELs 1. Analyse de data sheet 2. Analyses physico-chimiques 3. Analyses électro-optiques 4. Conclusion Chapitre 5 - Physique pour l’optoélectronique 1. Outils pour la physique du solide 2. Physique du semiconducteur 3. Physique des interfaces 4. Conclusion -Index

Optronique Optoélectronique Appliquée : mesures instruments modèles [texte imprimé] / Yannick Deshayes, Auteur . - Paris : Ellipses, 2014 . - 277 p. : couv. ill. en coul., ill. ; 26 cm.. - (Technosup) .
ISBN : 978-2-340-00127-5
Langues : Français (fre)

Index. décimale :	09-07 Physique des dispositifs éléctroniques
Résumé :	L’ouvrage développe la mise en oeuvre des mesures des caractéristiques électriques et optiques des composants optoélectroniques, depuis la réalisation des appareils de mesure jusqu’à l’obtention des résultats. Le coeur du livre est le chapitre 4 qui détaille les différentes mesures et analyse les résultats. Il précise également les démarches nécessaires pour vérifier le bienfondé des mesures ainsi que les limites des modèles pour une approche numérique. Préalablement, le chapitre 1 développe les différentes technologie des diodes électroluminescentes et les procédés de fabrications. Les chapitres 2 et 3 présentent les différents modèles de base, électriques puis optiques. On décrit également les différents appareils nécessaires à la mesure et à l’établissement d’une caractéristique courant-tension, puissance optique-courant et spectre optique. Enfin, le chapitre 5 revient sur la physique du solide pour en extraire les modèles présentées dans les chapitres précédents. Ce chapitre, plus théorique, présente des difficultés élevées pour les non initiés à la mécanique quantique. Les différents modèles sont présentés de manière pédagogique suivant une difficulté croissante et certains résultats portent sur les nouvelles technologies type GaN.
Note de contenu :	Table des matières Chapitre 1 - Les dispositifs optoélectroniques à DELs 1. Les technologies optoélectroniques 2. Les structures à semiconducteurs 3. Les applications 4. Conclusion Chapitre 2 - Caractéristiques électriques des structures élémentaires 1. Instrumentation et mesures électroniques 2. Caractéristique d’une homojonction 3. Caractéristique d’une double hétérostructure 4. Conclusion Chapitre 3 - Caractéristiques optiques des structures élémentaires 1. Instrumentation et mesures optiques 2. Propriétés optiques des semiconducteurs 3. Caractéristiques optiques d’une structure élémentaire 4. Conclusion Chapitre 4 - Mesures électro-optiques et analyses de DELs 1. Analyse de data sheet 2. Analyses physico-chimiques 3. Analyses électro-optiques 4. Conclusion Chapitre 5 - Physique pour l’optoélectronique 1. Outils pour la physique du solide 2. Physique du semiconducteur 3. Physique des interfaces 4. Conclusion -Index