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Auteur Emmanuel Defay
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Affiner la recherche Interroger des sources externesDiélectriques ferroélectriques intégrés sur silicium / Collectif
Titre : Diélectriques ferroélectriques intégrés sur silicium Type de document : texte imprimé Auteurs : Collectif, Auteur ; Emmanuel Defay, Directeur de la recherche Editeur : Cachan : Hermes Science Publication/Lavoisier Année de publication : 2011 Collection : EGEM Série Électronique et Micro-Électronique Importance : 455 p. Présentation : ill. Format : 23,9 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-2562-6 Langues : Français (fre) Index. décimale : 09-04 Technologie de composants Résumé : Ce livre est dédié à l'intégration des matériaux diélectriques ferroélectriques dans la technologie silicium. Il s'agit principalement de matériaux issus de la famille des matériaux pérovskites qui présentent des propriétés électriques remarquables : permittivité diélectrique très élevée, effet mémoire (ferroélectricité), piézoélectricité, électrostriction.
Bien que ces matériaux soient bien maîtrisés à l'état de céramique, les couches minces et notamment celles sur le silicium, le sont beaucoup moins. Ces dix dernières années ont vu une progression technologique sans précédent quant à l'intégration de ces matériaux diélectriques sur le silicium et notamment pour les microsystèmes.
Cet ouvrage est ainsi dédié à la description de ces matériaux à travers un traitement thermodynamique particulièrement développé pour le cas des couches minces, les technologies mises en jeu pour arriver à les synthétiser, les caractérisations spécifiques utilisées et finalement, la description de plusieurs réalisations technologies abouties.Note de contenu : Table des matières
Préface.
Chapitre 1. L'approche thermodynamique.
Chapitre 2. Effet des contraintes sur les couches minces.
Chapitre 3. Technologies de dépôts et mise en forme.
Chapitre 4. Analyse par diffraction des rayons X de films minces polycristallins.
Chapitre 5. Caractérisation physico-chimique et électrique.
Chapitre 6. Caractérisation radio-fréquence.
Chapitre 7. Courants de fuite dans les condensateurs PZT.
Chapitre 8. Capacités intégrées.
Chapitre 9. Fiabilité des condensateurs PZT.
Chapitre 10. Capacités variables ferroélectriques.
Chapitre 11. Mémoires ferroélectriques FRAM : principe, limitations, innovations et applications.
-Index.Diélectriques ferroélectriques intégrés sur silicium [texte imprimé] / Collectif, Auteur ; Emmanuel Defay, Directeur de la recherche . - Cachan : Hermes Science Publication/Lavoisier, 2011 . - 455 p. : ill. ; 23,9 cm.. - (EGEM Série Électronique et Micro-Électronique) .
ISBN : 978-2-7462-2562-6
Langues : Français (fre)
Index. décimale : 09-04 Technologie de composants Résumé : Ce livre est dédié à l'intégration des matériaux diélectriques ferroélectriques dans la technologie silicium. Il s'agit principalement de matériaux issus de la famille des matériaux pérovskites qui présentent des propriétés électriques remarquables : permittivité diélectrique très élevée, effet mémoire (ferroélectricité), piézoélectricité, électrostriction.
Bien que ces matériaux soient bien maîtrisés à l'état de céramique, les couches minces et notamment celles sur le silicium, le sont beaucoup moins. Ces dix dernières années ont vu une progression technologique sans précédent quant à l'intégration de ces matériaux diélectriques sur le silicium et notamment pour les microsystèmes.
Cet ouvrage est ainsi dédié à la description de ces matériaux à travers un traitement thermodynamique particulièrement développé pour le cas des couches minces, les technologies mises en jeu pour arriver à les synthétiser, les caractérisations spécifiques utilisées et finalement, la description de plusieurs réalisations technologies abouties.Note de contenu : Table des matières
Préface.
Chapitre 1. L'approche thermodynamique.
Chapitre 2. Effet des contraintes sur les couches minces.
Chapitre 3. Technologies de dépôts et mise en forme.
Chapitre 4. Analyse par diffraction des rayons X de films minces polycristallins.
Chapitre 5. Caractérisation physico-chimique et électrique.
Chapitre 6. Caractérisation radio-fréquence.
Chapitre 7. Courants de fuite dans les condensateurs PZT.
Chapitre 8. Capacités intégrées.
Chapitre 9. Fiabilité des condensateurs PZT.
Chapitre 10. Capacités variables ferroélectriques.
Chapitre 11. Mémoires ferroélectriques FRAM : principe, limitations, innovations et applications.
-Index.Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité N.Inventaire 3014 09-04-13 Livre Bibliothèque de Génie Electrique- USTO Documentaires Exclu du prêt 3014 3015 09-04-13 Livre Bibliothèque de Génie Electrique- USTO Documentaires Exclu du prêt 3015 Matériaux piézoélectriques intégrés sur silicium / Emmanuel Defay
Titre : Matériaux piézoélectriques intégrés sur silicium Type de document : texte imprimé Auteurs : Emmanuel Defay, Auteur Editeur : Cachan : Hermes Science Publication/Lavoisier Année de publication : 2010 Collection : EGEM Série Électronique et Micro-Électronique Importance : 421 p. Présentation : couv. ill. en coul., ill. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-2991-4 Langues : Français (fre) Index. décimale : 09-09 capteurs Résumé : Ce livre sur les couches minces piézoélectriques reprend les bases théoriques de façon assez exhaustives, en les associant à des applications à l’état de l’art en ce début d’année 2010. Bien sûr, il existe des ouvrages de référence sur les matériaux piézoélectriques comme les standards de la piézoélectricité ou bien le fameux ouvrage de Royer et Dieulessaint. Il y a également de très bons ouvrages sur le phénomène ferroélectrique dont la référence Lines and Glass. Cependant, il nous a semblé assez structurant de revisiter ces deux piliers nécessaires à une compréhension profonde des couches piézoélectriques, tout en ajoutant d’autres notions essentielles que sont le formalisme mécanique contrainte-déformation, le formalisme diélectrique et également une partie importante sur la propagation des ondes acoustiques. Note de contenu : Table des matiéres:
Introduction générale
Chapitre 1. Diélectrique, piézoélectrique, pyroélectrique et ferroélectrique
Chapitre 2. L’étude thermodynamique : une approche structurante
Chapitre 3. Modélisation thermodynamique de la transition de phase ferroélectrique-paraélectrique.
Chapitre 4. Formalisme mécanique.
Chapitre 5. Formalisme diélectrique.
Chapitre 6. Formalisme piézoélectrique.
Chapitre 7. Formalisme acoustique.
Chapitre 8. Formalisme électrostrictif.
Chapitre 9. Caractérisation électrique.
Chapitre 10. Résonateurs et filtres piézoélectriques.
Chapitre 11. High overtone Bulk Acoustic Resonator (HBAR).
Chapitre 12. Résonateurs électrostrictifs
Chapitre 13. Transducteurs piézoélectriques en couches minces.
-Index.Matériaux piézoélectriques intégrés sur silicium [texte imprimé] / Emmanuel Defay, Auteur . - Cachan : Hermes Science Publication/Lavoisier, 2010 . - 421 p. : couv. ill. en coul., ill. ; 24 cm.. - (EGEM Série Électronique et Micro-Électronique) .
ISBN : 978-2-7462-2991-4
Langues : Français (fre)
Index. décimale : 09-09 capteurs Résumé : Ce livre sur les couches minces piézoélectriques reprend les bases théoriques de façon assez exhaustives, en les associant à des applications à l’état de l’art en ce début d’année 2010. Bien sûr, il existe des ouvrages de référence sur les matériaux piézoélectriques comme les standards de la piézoélectricité ou bien le fameux ouvrage de Royer et Dieulessaint. Il y a également de très bons ouvrages sur le phénomène ferroélectrique dont la référence Lines and Glass. Cependant, il nous a semblé assez structurant de revisiter ces deux piliers nécessaires à une compréhension profonde des couches piézoélectriques, tout en ajoutant d’autres notions essentielles que sont le formalisme mécanique contrainte-déformation, le formalisme diélectrique et également une partie importante sur la propagation des ondes acoustiques. Note de contenu : Table des matiéres:
Introduction générale
Chapitre 1. Diélectrique, piézoélectrique, pyroélectrique et ferroélectrique
Chapitre 2. L’étude thermodynamique : une approche structurante
Chapitre 3. Modélisation thermodynamique de la transition de phase ferroélectrique-paraélectrique.
Chapitre 4. Formalisme mécanique.
Chapitre 5. Formalisme diélectrique.
Chapitre 6. Formalisme piézoélectrique.
Chapitre 7. Formalisme acoustique.
Chapitre 8. Formalisme électrostrictif.
Chapitre 9. Caractérisation électrique.
Chapitre 10. Résonateurs et filtres piézoélectriques.
Chapitre 11. High overtone Bulk Acoustic Resonator (HBAR).
Chapitre 12. Résonateurs électrostrictifs
Chapitre 13. Transducteurs piézoélectriques en couches minces.
-Index.Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité N.Inventaire 3738 09-09-23 Livre Bibliothèque de Génie Electrique- USTO Documentaires Exclu du prêt 3738 3739 09-09-23 Livre Bibliothèque de Génie Electrique- USTO Documentaires Exclu du prêt 3739



