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| Titre : | Etude des couches minces du monoxyde de Nickel NIO | | Type de document : | document électronique | | Auteurs : | BAHI AZZOUM Ahmed, Auteur | | Année de publication : | 12-02-2014 | | Importance : | 108 p. | | Accompagnement : | CD | | Langues : | Français (fre) | | Catégories : | Electronique:Technologie des Microsystèmes Electro-Mécaniques et Microfluidique
| | Mots-clés : | Couche mince NiO pulvérisation chimique en phase liquide propriété structurale diffraction de rayons X.
Thin film NiO spray pyrolyse structural properties X-ray diffraction | | Résumé : | Aujourd'hui, les couches minces d’oxydes transparents conducteurs à base des semi-conducteurs de type p sont utilisées dans des différentes applications telles que des électrodes transparentes dans les dispositifs optoélectroniques. Ces semi-conducteurs transparents de type p sont relativement rares, NiO est l'un de ces oxydes. Durant ces dernières années, un intérêt croissant a été consacré aux couches minces de ce matériau. En raison de sa grande stabilité chimique, ainsi que ces propriétés magnétiques, électriques et optiques, NiO possède une série d'applications dans les composants électroniques, les fenêtres intelligentes et les cellules solaires à base d’hétérojonction.
L’objectif de notre travail est l’élaboration et la caractérisation de couches minces de l’oxyde de nickel NiO déposées par la technique de pulvérisation chimique en phase liquide (spray pyrolysis) sur des substrats en verre. Notre objectif consiste à améliorer la qualité de ces couches par l’étude de l’influence de la molarité de la solution chimique utilisé sur les propriétés structurales de nos couches.
Les spectres de diffraction de rayons X montrent que les couches déposées à différentes concentrations sont de nature polycristalline avec une structure rocksalt (cubique à faces centrés). Ces couches minces présentent une orientation préférentielle des grains suivant la direction (200) quelque soit la température de recuit et la concentration de solution, sauf pour les couches minces élaborées à 0.2M et recuites à 500 °C ou l’orientation préférentielle des grains est selon l’axe (111). Nous avons aussi remarqué que la température de recuit influe sur la cristallinité de la couche mince de NiO.
Nowadays, transparent conducting thin film coatings of p-type semiconductors are required in different applications such as transparent electrodes for optoelectronic devices. Such p-type transparent semiconductors are relatively rare, NiO is one of these oxides. Last years, a growing interest has been devoted to nickel oxide thin films. Due to its high chemical stability, as well as optical magnetic and electrical properties, NiO has a variety of applications in electronic devices, smart windows and hetrojunction solar cells.
The aim of our work is the development and characterization of thin films of nickel oxide NiO deposited by the technique of spray pyrolyse on glass substrates. Our interest is to improve the quality of these thin films by studying the effect of the solution molarity on the structural properties of our thin film.
The spectra of X-ray diffraction show that the deposited of films at different concentration are polycrystalline in nature with a rocksalt structure (cubic).These thin layers have a preferential orientation along the (200) direction whatever the annealing temperature and concentration of solution except in the case of developed at 0.2M and annealed at 500 ° C or preferred orientation in the thin film is axis (111). We also noted that annealing temperature affects at the crystallinity of the thin film of NiO
| | Directeur de thèse : | HAMDADOU Nasr-Eddine |
Etude des couches minces du monoxyde de Nickel NIO [document électronique] / BAHI AZZOUM Ahmed, Auteur . - 12-02-2014 . - 108 p. + CD. Langues : Français ( fre) | Catégories : | Electronique:Technologie des Microsystèmes Electro-Mécaniques et Microfluidique
| | Mots-clés : | Couche mince NiO pulvérisation chimique en phase liquide propriété structurale diffraction de rayons X.
Thin film NiO spray pyrolyse structural properties X-ray diffraction | | Résumé : | Aujourd'hui, les couches minces d’oxydes transparents conducteurs à base des semi-conducteurs de type p sont utilisées dans des différentes applications telles que des électrodes transparentes dans les dispositifs optoélectroniques. Ces semi-conducteurs transparents de type p sont relativement rares, NiO est l'un de ces oxydes. Durant ces dernières années, un intérêt croissant a été consacré aux couches minces de ce matériau. En raison de sa grande stabilité chimique, ainsi que ces propriétés magnétiques, électriques et optiques, NiO possède une série d'applications dans les composants électroniques, les fenêtres intelligentes et les cellules solaires à base d’hétérojonction.
L’objectif de notre travail est l’élaboration et la caractérisation de couches minces de l’oxyde de nickel NiO déposées par la technique de pulvérisation chimique en phase liquide (spray pyrolysis) sur des substrats en verre. Notre objectif consiste à améliorer la qualité de ces couches par l’étude de l’influence de la molarité de la solution chimique utilisé sur les propriétés structurales de nos couches.
Les spectres de diffraction de rayons X montrent que les couches déposées à différentes concentrations sont de nature polycristalline avec une structure rocksalt (cubique à faces centrés). Ces couches minces présentent une orientation préférentielle des grains suivant la direction (200) quelque soit la température de recuit et la concentration de solution, sauf pour les couches minces élaborées à 0.2M et recuites à 500 °C ou l’orientation préférentielle des grains est selon l’axe (111). Nous avons aussi remarqué que la température de recuit influe sur la cristallinité de la couche mince de NiO.
Nowadays, transparent conducting thin film coatings of p-type semiconductors are required in different applications such as transparent electrodes for optoelectronic devices. Such p-type transparent semiconductors are relatively rare, NiO is one of these oxides. Last years, a growing interest has been devoted to nickel oxide thin films. Due to its high chemical stability, as well as optical magnetic and electrical properties, NiO has a variety of applications in electronic devices, smart windows and hetrojunction solar cells.
The aim of our work is the development and characterization of thin films of nickel oxide NiO deposited by the technique of spray pyrolyse on glass substrates. Our interest is to improve the quality of these thin films by studying the effect of the solution molarity on the structural properties of our thin film.
The spectra of X-ray diffraction show that the deposited of films at different concentration are polycrystalline in nature with a rocksalt structure (cubic).These thin layers have a preferential orientation along the (200) direction whatever the annealing temperature and concentration of solution except in the case of developed at 0.2M and annealed at 500 ° C or preferred orientation in the thin film is axis (111). We also noted that annealing temperature affects at the crystallinity of the thin film of NiO
| | Directeur de thèse : | HAMDADOU Nasr-Eddine |
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