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Acquisition automatique des paramètres dynamiques d’un composant actif. / WAHBI Mohamed

Public ISBD Titre : Acquisition automatique des paramètres dynamiques d’un composant actif. : Application au transistor bipolaire. Type de document : texte imprimé Auteurs : WAHBI Mohamed, Auteur ; NOUGARO, Directeur de thèse Année de publication : 1983 Importance : 150 p. Langues : Français (fre) Catégories : Electronique:Génie Electrique Mots-clés : Acquisition automatique  instrumentation  paramètres dynamiques  composant actif  transistor bipolaire. Résumé : Etude d’un système complet d’acquisition des paramètres dynamiques d’un composant actif. Associé à un mini-calculateur, le dispositif réalisé est constitué d’une partie analogique de test, un ensemble d’interfaces permettant le transfert des données au calculateur, d’un ensemble logiciel permettant le traitement des données et l’affichage des résultats. Ce travail rentre dans le cadre d’une recherche finalisée concernant l’instrumentation pour la microélectronique. Acquisition automatique des paramètres dynamiques d’un composant actif. : Application au transistor bipolaire. [texte imprimé] / WAHBI Mohamed, Auteur ; NOUGARO, Directeur de thèse . - 1983 . - 150 p. Langues : Français (fre) Catégories : Electronique:Génie Electrique Mots-clés : Acquisition automatique  instrumentation  paramètres dynamiques  composant actif  transistor bipolaire. Résumé : Etude d’un système complet d’acquisition des paramètres dynamiques d’un composant actif. Associé à un mini-calculateur, le dispositif réalisé est constitué d’une partie analogique de test, un ensemble d’interfaces permettant le transfert des données au calculateur, d’un ensemble logiciel permettant le traitement des données et l’affichage des résultats. Ce travail rentre dans le cadre d’une recherche finalisée concernant l’instrumentation pour la microélectronique.

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
20700	02-09-63	version papier	Bibliothèque USTOMB	Thèse de Doctorat	Exclu du prêt

Développement de méthodes d’étude des systèmes à semi-conducteurs en vue de la prise en compte des défauts de fonctionnement. / SELLAMI Fayçal

Public ISBD Titre : Développement de méthodes d’étude des systèmes à semi-conducteurs en vue de la prise en compte des défauts de fonctionnement. Type de document : texte imprimé Auteurs : SELLAMI Fayçal, Auteur ; NOUGARO, Directeur de thèse Année de publication : 1983 Importance : 181 p. Langues : Français (fre) Catégories : Electrotechnique:Génie Electrique Mots-clés : Convertisseurs statiques  Méthodes d’étude  simulation analogique  modélisation  modélisation  défaillances. Résumé : Le but des travaux exposés dans ce mémoire est de faire évoluer les méthodes d’études des systèmes à semi-conducteurs afin de permettre l’analyse des défauts de fonctionnements et ceci concernant tout particulièrement l’étude analyticographique, l’étude expérimentale et l’étude de simulation analogique. Pour cela nous avons procédé en trois étapes : L’étude, par la méthode analyticographique, des défauts de fonctionnement liés aux instants d’appel au transitoire et aux impulsions parasites. L’étude expérimentale de la réponse du hacheur aux différents appels au transitoire à l’aide d’un dispositif de commande mis au point suivant un procédé SHIRT (Séquenceur hybride d’incidents et de régimes transitoires). Le développement d’un modèle d’interrupteur généralisé programmable prenant en compte à la fois les fonctions interrupteurs usuelles et les changements d’état aux dépassements des valeurs limites des caractéristique de l’interrupteur. L’étude par simulation analogique de l’évolution des défaillances est possible. Développement de méthodes d’étude des systèmes à semi-conducteurs en vue de la prise en compte des défauts de fonctionnement. [texte imprimé] / SELLAMI Fayçal, Auteur ; NOUGARO, Directeur de thèse . - 1983 . - 181 p. Langues : Français (fre) Catégories : Electrotechnique:Génie Electrique Mots-clés : Convertisseurs statiques  Méthodes d’étude  simulation analogique  modélisation  modélisation  défaillances. Résumé : Le but des travaux exposés dans ce mémoire est de faire évoluer les méthodes d’études des systèmes à semi-conducteurs afin de permettre l’analyse des défauts de fonctionnements et ceci concernant tout particulièrement l’étude analyticographique, l’étude expérimentale et l’étude de simulation analogique. Pour cela nous avons procédé en trois étapes : L’étude, par la méthode analyticographique, des défauts de fonctionnement liés aux instants d’appel au transitoire et aux impulsions parasites. L’étude expérimentale de la réponse du hacheur aux différents appels au transitoire à l’aide d’un dispositif de commande mis au point suivant un procédé SHIRT (Séquenceur hybride d’incidents et de régimes transitoires). Le développement d’un modèle d’interrupteur généralisé programmable prenant en compte à la fois les fonctions interrupteurs usuelles et les changements d’état aux dépassements des valeurs limites des caractéristique de l’interrupteur. L’étude par simulation analogique de l’évolution des défaillances est possible.

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
2069	02-09-62	version papier	Bibliothèque USTOMB	Thèse de Doctorat	Exclu du prêt