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Applications de la spectrométrie de fluorescence X à l’analyse et la caractérisation des matériaux. / LOTFI BOUTAHAR 

Public ISBD Titre : Applications de la spectrométrie de fluorescence X à l’analyse et la caractérisation des matériaux. Type de document : texte imprimé Auteurs : LOTFI BOUTAHAR, Auteur Année de publication : 24-06-2014 Importance : 108 p. Langues : Français (fre) Catégories : Physique:Option Propriétés optique et luminescentes des matériaux Mots-clés : Spectrométrie  fluorescence X  XRF  Skyray  Analyse quantitative  Analyse qualitative  Rayons X  EDX3600B, WDX Résumé : Ce travail est constitué de deux volets : 1. Le premier volet consiste à faire une synthèse sur l’aspect physique de la spectrométrie de fluorescence X (XRF en Anglais) et de diverses applications dans l’analyse qualitative et quantitative de différents types de matériaux. On a eu ainsi l’occasion de se familiariser avec les principes physiques de la XRF et les applications multiples et variées dans différents domaines : recherche, industrie etc, aussi on a pris connaissance des différentes catégories d’analyseurs XRF, ainsi que leurs diverses formes. 2. Le deuxième volet du travail est expérimental. On a installé, mis en marche et calibré le spectromètre de fluorescence X à dispersion d’énergie EDX3600B. On a eu également l’occasion d’appliquer la fluorescence X à la caractérisation de différents types de matériaux : alliages métalliques (écrou de cuivre, bague en argent, balle en plomb, Louis d’or, morceau de verre) et couches minces (FeCo/Si et Fe/differents substrats). On a abouti à des résultats (XRF) très satisfaisants lors de l’analyse qualitative (détection des éléments constituants les substrats et les couches déposées) et quantitative (mesure de la composition et des épaisseurs) des couches minces par rapport à ceux de RBS. Directeur de thèse : KRACHNI Omar Applications de la spectrométrie de fluorescence X à l’analyse et la caractérisation des matériaux. [texte imprimé] / LOTFI BOUTAHAR, Auteur . - 24-06-2014 . - 108 p. Langues : Français (fre) Catégories : Physique:Option Propriétés optique et luminescentes des matériaux Mots-clés : Spectrométrie  fluorescence X  XRF  Skyray  Analyse quantitative  Analyse qualitative  Rayons X  EDX3600B, WDX Résumé : Ce travail est constitué de deux volets : 1. Le premier volet consiste à faire une synthèse sur l’aspect physique de la spectrométrie de fluorescence X (XRF en Anglais) et de diverses applications dans l’analyse qualitative et quantitative de différents types de matériaux. On a eu ainsi l’occasion de se familiariser avec les principes physiques de la XRF et les applications multiples et variées dans différents domaines : recherche, industrie etc, aussi on a pris connaissance des différentes catégories d’analyseurs XRF, ainsi que leurs diverses formes. 2. Le deuxième volet du travail est expérimental. On a installé, mis en marche et calibré le spectromètre de fluorescence X à dispersion d’énergie EDX3600B. On a eu également l’occasion d’appliquer la fluorescence X à la caractérisation de différents types de matériaux : alliages métalliques (écrou de cuivre, bague en argent, balle en plomb, Louis d’or, morceau de verre) et couches minces (FeCo/Si et Fe/differents substrats). On a abouti à des résultats (XRF) très satisfaisants lors de l’analyse qualitative (détection des éléments constituants les substrats et les couches déposées) et quantitative (mesure de la composition et des épaisseurs) des couches minces par rapport à ceux de RBS. Directeur de thèse : KRACHNI Omar

Exemplaires

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
8678	02-05-754	Version numérique et papier	Bibliothèque USTOMB	Mémoire de Magister	Exclu du prêt

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