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Titre : | Elaboration et caractérisation des couches minces conductrices et transparentes pour les cellules solaire de type TCO/ZnS/CIS | Type de document : | document électronique | Auteurs : | LARBAH Youssef, Auteur | Année de publication : | 2011. | Importance : | 98 p. | Accompagnement : | CD | Langues : | Français (fre) | Catégories : | Physique:Option Technologie des Matériaux et physique des dispositifs
| Mots-clés : | couches minces - SnO2:F - ZnO:AI - Spray -Propriétés électriques et optiques | Résumé : | Les oxydes métalliques sont des matériaux pouvant présenter la double propriété d'avoir une haute conductivité électrique et une bonne transparence dans le domaine du visible. Ils sont appelés "oxydes transparents et conducteurs" TCO. L'objectif de notre travail est l'élaboration et la caractérisation des couches minces d'oxyde métallique transparent et conducteur: SnO2: F, ZnO: Al nous avons élaboré nos films d'oxyde d'étain non dopé et dopé fluor, l'oxyde de zinc non dopé et dopé aluminium par la technique pyrolyse de spray (technique simple et économique) les conditions de dépôt optimales pour l'oxyde d'étain non dopé et dopé fluor sont: Ts=400°C et [Sn+4]=0,4mol.I-1 pour l'oxyde de zinc non dopé et dopé aluminium Ts=450°C et[Zn+2]=0,2mol.I-1, nous avons ensuite effectué une série de caractérisation: mesures électriques et optiques, DRX,EDX, et microscopie électronique à balayage et I(V) des jonctions SnO2:F/ZnO2:Fet ZnO: AI diminue avec le taux de dopage par le fluor et l'aluminium respectivement les couches minces de SnO2: F donné une résistivité de l'ordre de 1,6-3 et une transmission de l'ordre de 85% à 9% de fluor. Les couches minces de ZnO: AI présentent les paramètres suivants p=1 ,810-1 Qcm et T=90% à un taux d'AI égal à 0,9%. La caractérisation I(V) des jonctions montre un contacter ohmique pour les deux jonctions SnO2: F/2ZnS et ZnO: AI/ZnS. | Directeur de thèse : | ADNANE Mohamed |
Elaboration et caractérisation des couches minces conductrices et transparentes pour les cellules solaire de type TCO/ZnS/CIS [document électronique] / LARBAH Youssef, Auteur . - 2011. . - 98 p. + CD. Langues : Français ( fre) Catégories : | Physique:Option Technologie des Matériaux et physique des dispositifs
| Mots-clés : | couches minces - SnO2:F - ZnO:AI - Spray -Propriétés électriques et optiques | Résumé : | Les oxydes métalliques sont des matériaux pouvant présenter la double propriété d'avoir une haute conductivité électrique et une bonne transparence dans le domaine du visible. Ils sont appelés "oxydes transparents et conducteurs" TCO. L'objectif de notre travail est l'élaboration et la caractérisation des couches minces d'oxyde métallique transparent et conducteur: SnO2: F, ZnO: Al nous avons élaboré nos films d'oxyde d'étain non dopé et dopé fluor, l'oxyde de zinc non dopé et dopé aluminium par la technique pyrolyse de spray (technique simple et économique) les conditions de dépôt optimales pour l'oxyde d'étain non dopé et dopé fluor sont: Ts=400°C et [Sn+4]=0,4mol.I-1 pour l'oxyde de zinc non dopé et dopé aluminium Ts=450°C et[Zn+2]=0,2mol.I-1, nous avons ensuite effectué une série de caractérisation: mesures électriques et optiques, DRX,EDX, et microscopie électronique à balayage et I(V) des jonctions SnO2:F/ZnO2:Fet ZnO: AI diminue avec le taux de dopage par le fluor et l'aluminium respectivement les couches minces de SnO2: F donné une résistivité de l'ordre de 1,6-3 et une transmission de l'ordre de 85% à 9% de fluor. Les couches minces de ZnO: AI présentent les paramètres suivants p=1 ,810-1 Qcm et T=90% à un taux d'AI égal à 0,9%. La caractérisation I(V) des jonctions montre un contacter ohmique pour les deux jonctions SnO2: F/2ZnS et ZnO: AI/ZnS. | Directeur de thèse : | ADNANE Mohamed |
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Exemplaires
Disponibilité |
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8561 | 02-05-638 | Version numérique et papier | Bibliothèque USTOMB | Mémoire de Magister | Exclu du prêt |
Documents numériques
 Elaboration et caractérisation des couches minces conductrices et transparentes pour les cellules solaire de type TCO/ZnS/CISAdobe Acrobat PDF | | |
Titre : | L’optimisation des couches minces TCO : SnO2, ZnO et TiO2 par la méthode spray pyrolyse en vue de la formation des jonctions photovoltaïques sur le silicium de type « n ». | Type de document : | document électronique | Auteurs : | LARBAH Youssef, Auteur ; ADNANE Mohammed, Directeur de thèse | Année de publication : | 2016/2017 | Importance : | 132 p. | Accompagnement : | CD | Langues : | Français (fre) | Catégories : | Physique:Option Technologie des Matériaux et physique des dispositifs
| Mots-clés : | TCO SnO2 ZnO dopage Spray pyrolyse jonctions photovoltaïques MEB DRX SIMS Auger RBS.
TCO SnO2 ZnO doping pyrolysis spray photovoltaic junctions SEM DRX SIMS Auger and RBS. | Résumé : | Les oxydes métalliques sont des matériaux présentant des propriétés physiques intéressantes pour l’utilisation dans le domaine du photovoltaïque. L'objet de ce travail est l’optimisation des propriétés des oxydes métallique tels que l’oxyde de zinc (ZnO non dopé et dopé aluminium) et l’oxyde de d’étain (SnO2 non dopé et dopé fluor) par la méthode pyrolyse de spray en vue de formation des hétérojonctions sur le silicium monocristallin de type n et p. L’effet de certains paramètres d’élaborations par spray a été étudié : la température, le temps de dépôt et la distance substrat- buse. Les films obtenues sont caractérisés par différentes techniques tels que: la microscopie électronique à balayage (MEB) afin de préciser les microstructures existantes, la diffraction de rayons X (DRX) pour s’assurer de la structure des couches minces, l’analyse des rayons X par dispersion d’énergies (EDX) et l'analyse RBS pour connaitre la composition chimique globale ou bien locale des échantillons, la spectroscopie Auger et spectroscopie SIMS pour l’analyse de surface. De plus les propriétés électriques ont été étudiées par la caractéristique (I-V) et l’effet Hall. Enfin les propriétés optiques ont été étudiées à partir des mesures par spectrophotomètre (réflexion-transmission) et la photoluminescence. Ce travail a été suivi par la réalisation des hétérojonctions Si/TCO et des cellules solaires organiques.
The metal oxides are materials with interesting physical properties for use in the field of photovoltaics. The object of this work is the optimization of the properties of metallic oxides Such as the zinc oxide (undoped and aluminumdoped ZnO) and tin oxide (undoped SnO2 and doped fluorine) by pyrolysis spray method in view to formation of heterojunctions on monocrystalline silicon of type n and p. The effect of some processing parameters by spray was study: the temperature, the deposition time and the distance substrate-nozzle. The films
obtained were characterized by different techniques such as: the Scanning Electron Microscopy (SEM) in order to specify the existing microstructures, the X-ray diffraction (XRD) to ensure the structure of the thin films.
X-ray energy dispersion analysis (EDX) and RBS analysis to know the overall or local chemical composition of the samples, the Auger and the SIMS spectroscopy are for the surface analysis. Moreover, the electrical properties
were study by the (I-V) characteristic and the Hall Effect. Finally, the optical properties were study from the measurements by spectrophotometry (reflection-transmission) and photoluminescence. This work was follow by the realization of Si /TCO heterojunctions and organic solar cells. |
L’optimisation des couches minces TCO : SnO2, ZnO et TiO2 par la méthode spray pyrolyse en vue de la formation des jonctions photovoltaïques sur le silicium de type « n ». [document électronique] / LARBAH Youssef, Auteur ; ADNANE Mohammed, Directeur de thèse . - 2016/2017 . - 132 p. + CD. Langues : Français ( fre) Catégories : | Physique:Option Technologie des Matériaux et physique des dispositifs
| Mots-clés : | TCO SnO2 ZnO dopage Spray pyrolyse jonctions photovoltaïques MEB DRX SIMS Auger RBS.
TCO SnO2 ZnO doping pyrolysis spray photovoltaic junctions SEM DRX SIMS Auger and RBS. | Résumé : | Les oxydes métalliques sont des matériaux présentant des propriétés physiques intéressantes pour l’utilisation dans le domaine du photovoltaïque. L'objet de ce travail est l’optimisation des propriétés des oxydes métallique tels que l’oxyde de zinc (ZnO non dopé et dopé aluminium) et l’oxyde de d’étain (SnO2 non dopé et dopé fluor) par la méthode pyrolyse de spray en vue de formation des hétérojonctions sur le silicium monocristallin de type n et p. L’effet de certains paramètres d’élaborations par spray a été étudié : la température, le temps de dépôt et la distance substrat- buse. Les films obtenues sont caractérisés par différentes techniques tels que: la microscopie électronique à balayage (MEB) afin de préciser les microstructures existantes, la diffraction de rayons X (DRX) pour s’assurer de la structure des couches minces, l’analyse des rayons X par dispersion d’énergies (EDX) et l'analyse RBS pour connaitre la composition chimique globale ou bien locale des échantillons, la spectroscopie Auger et spectroscopie SIMS pour l’analyse de surface. De plus les propriétés électriques ont été étudiées par la caractéristique (I-V) et l’effet Hall. Enfin les propriétés optiques ont été étudiées à partir des mesures par spectrophotomètre (réflexion-transmission) et la photoluminescence. Ce travail a été suivi par la réalisation des hétérojonctions Si/TCO et des cellules solaires organiques.
The metal oxides are materials with interesting physical properties for use in the field of photovoltaics. The object of this work is the optimization of the properties of metallic oxides Such as the zinc oxide (undoped and aluminumdoped ZnO) and tin oxide (undoped SnO2 and doped fluorine) by pyrolysis spray method in view to formation of heterojunctions on monocrystalline silicon of type n and p. The effect of some processing parameters by spray was study: the temperature, the deposition time and the distance substrate-nozzle. The films
obtained were characterized by different techniques such as: the Scanning Electron Microscopy (SEM) in order to specify the existing microstructures, the X-ray diffraction (XRD) to ensure the structure of the thin films.
X-ray energy dispersion analysis (EDX) and RBS analysis to know the overall or local chemical composition of the samples, the Auger and the SIMS spectroscopy are for the surface analysis. Moreover, the electrical properties
were study by the (I-V) characteristic and the Hall Effect. Finally, the optical properties were study from the measurements by spectrophotometry (reflection-transmission) and photoluminescence. This work was follow by the realization of Si /TCO heterojunctions and organic solar cells. |
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Exemplaires
Disponibilité |
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1308 | 02-05-865 | Version numérique et papier | Bibliothèque USTOMB | Thèse de Doctorat | Exclu du prêt |
Documents numériques
 02-05-865.pdfAdobe Acrobat PDF | | |
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